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Referência

Gómez, A.G. ; Recco, A.A.C. ; Lima, N.B. ; Martinez, L.G. ; Tschiptschin, A.P. ; Souza, R.M., "Residual stresses in titanium nitride thin films obtained with step variation of substrate bias voltage during deposition", Surface & Coatings Technology 204, 3228 (2010).

Tipo
Artigos em periódicos internacionais indexados
Grupo de pesquisa
Laboratório de Fenômenos de Superfícies - Universidade de São Paulo (USP)
Coordenador
Prof. Amilton Sinatora

Palavras-chave: amilton sinatora, periódicos internacionais, usp

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