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Referência

Paulo Fernandes Barbieri. Propriedades Eletrônicas e Estruturais do Xenônio Implantado em Silício Amorfo. Tese de doutorado. Campinas, SP, 21/09/2009.

Tipo
Mestres e doutores formados
Grupo de pesquisa
Laboratório de Pesquisas Fotovoltaicas - Universidade Estadual de Campinas (Unicamp)
Coordenador
Prof. Francisco das Chagas Marques

Palavras-chave: 2009, chagas marques, engenharia de superfícies, Instituto Nacional de Engenharia de Superfícies, tese, unicamp, xenônio implantado em silício amorfo

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