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Artigos e Patentes

2014

  • 2014
  • VOS, M. ;GRANDE, P.'L.; VENKATACHALAM, D.'K. ; NANDI, S.'K. ; ELLIMAN, R.'G. . Oxygen Self-Diffusion inHfO2Studied by Electron Spectroscopy. Physical Review Letters (Print), v. 112, p. 175901, 2014. / Ver detalhes

  • VOS, MAARTEN ;GRANDE, PEDRO LUIS. The relation between the electron energy loss spectra of hafnia and its dielectric function. Surface Science, v. 630, p. 1-8, 2014. / Ver detalhes

  • Grande, P.L.; SOBOCINSKI, P. A. ; PUREUR, P. . Transverse voltage and chiral glass transition in YBa2Cu3O6+d thin films. Physica. C, Superconductivity (Print), v. 506, p. 87-93, 2014. / Ver detalhes

  • Sanchez, D.F.; RODRIGUES, F. ;Luce, F.P.;Fabrim, Z.E.; AZEVEDO, G. DE M. ; KELLERMAN, G. ; BAPTISTA, D.L. ;Grande, P.L.;Fichtner, P.F.P.. MEIS, TEM and GISAXS investigation of buried Pb nanoislands in SiO2/Si interface. Applied Surface Science, v. 1, p. 1, 2014. / Ver detalhes

  • VOS, MAARTEN ;GRANDE, PEDRO LUIS. The relation between the electron energy loss spectra of hafnia and its dielectric function. Surface Science, v. 630, p. 1-8, 2014. / Ver detalhes

  • Grande, P.L.; SOBOCINSKI, P. A. ; PUREUR, P. . Transverse voltage and chiral glass transition in YBa2Cu3O6+d thin films. Physica. C, Superconductivity (Print), v. 506, p. 87-93, 2014. / Ver detalhes

  • Sanchez, D.F.; RODRIGUES, F. ;Luce, F.P.;Fabrim, Z.E.; AZEVEDO, G. DE M. ; KELLERMAN, G. ; BAPTISTA, D.L. ;Grande, P.L.;Fichtner, P.F.P.. MEIS, TEM and GISAXS investigation of buried Pb nanoislands in SiO2/Si interface. Applied Surface Science, v. 1, p. 1, 2014. / Ver detalhes

  • VOS, M. ; LIU, X. ;Grande, P.L.; NANDI, S.K. ; VENKATACHALAM, D.K. ; ELLIMAN, R.G. . The use of electron Rutherford backscattering to characterize novel electronic materials as illustrated by a case study of sputter-deposited NbOx films. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B, Beam Interactions with Materials and Atoms (Print), v. 340, p. 58-62, 2014. / Ver detalhes

  • HERNANDEZ-COMO, N. ; MARTINEZ-LANDEROS, V. ; MEJIA, I. ; AGUIRRE-TOSTADO, F.S. ; NASCIMENTO, C.D. ; DE M. AZEVEDO, G. ;Krug, C.; QUEVEDO-LOPEZ, M.A. . Defect control in room temperature deposited cadmium sulfide thin films by pulsed laser deposition. Thin Solid Films, v. 550, p. 665-668, 2014. / Ver detalhes

  • Soares, G. V.; FEIJÓ, T. O. ;BAUMVOL, I. J. R.; AGUZZOLI, C.;Krug, C.;RADTKE, C.. Thermally-driven H interaction with HfO2 films deposited on Ge(100) and Si(100). Applied Physics Letters, v. 104, p. 042901, 2014. / Ver detalhes


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