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Referência
DORIA, MAURO MELCHIADES ; LIU, LIYING ; XING, YUTAO ; MERINO, ISABEL L.C. ; LITTERST, JOCHEN ; BAGGIO-SAITOVITCH, ELISA . Shape Resonances and the Tc dependence on film thickness of Ni/Bi systems. SUPERCONDUCTOR SCIENCE & TECHNOLOGY, v. 35, p. 015012, 2022.
Tipo
Artigos em periódicos internacionais indexados
Grupo de pesquisa
Laboratório de Produção de Nanomateriais - Universidade Federal Fluminense (UFF)
Coordenador
Dante Franceschini

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