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Referência

Vasconcellos, MAZ, Lima, S.C. Hinrichs, R. Hardness evaluation, stoichiometru and grain size of titanium nitride films obtained with plasma nitriding on TiAlV samples. First TMS-ABM International Materials Congress. Rio de Janeiro 2010.

Tipo
Trabalhos em conferências internacionais
Grupo de pesquisa
Laboratório de Conformação Nanométrica - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
Coordenador
Prof. Marcos Vasconcellos

Palavras-chave: conferências internacionais, marcos vasconcellos, UFRGS

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