Instituto Nacional de Engenharia de Superfícies


Artigos e Patentes

Laboratório de Produção de Nanomateriais - Universidade Federal Fluminense (UFF)

Referência

Fabiano Pinto Pereira,Dácio Moreira Souza and Dante Ferreira Franceschini. In-situ optical characterization of plasma deposited a-C:H films during deposition by CH4 plasmas and erosion  by N2-H2 plasmas. 11th International Conference on advanced materials - ICAM 2009 - Rio de Janeiro, 2009.

Tipo
Trabalhos em conferências internacionais
Grupo de pesquisa
Laboratório de Produção de Nanomateriais - Universidade Federal Fluminense (UFF)
Coordenador
Prof. Dante Ferreira Franceschini Filho

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