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Artigos e Patentes

Laboratório de Caracterização de Superfícies em NanoEscala e Laboratório de Caracterização de Materiais - Universidade de Caxias do Sul (UCS)

Referência

ANTUNES, V.G. ; FIGUEROA, C.A. ; Alvarez, F. . A comprehensive study of the TiN/Si interface by X-ray photoelectron spectroscopy. APPLIED SURFACE SCIENCE , v. 448, p. 502-509, 2018.

Tipo
Artigos em periódicos internacionais indexados
Grupos de pesquisa
Laboratório de Caracterização de Superfícies em NanoEscala e Laboratório de Caracterização de Materiais - Universidade de Caxias do Sul (UCS)
Laboratório de Implantação Iônica e Tratamento de Superfícies - Universidade Estadual de Campinas (Unicamp)
Coordenador
Fernando Alvarez e Carlos Figueroa

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