Instituto Nacional de Engenharia de Superfícies


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  • 2010
  • Vasconcellos, MAZ, Lima, S.C. Hinrichs, R. Hardness evaluation, stoichiometru and grain size of titanium nitride films obtained with plasma nitriding on TiAlV samples. First TMS-ABM International Materials Congress. Rio de Janeiro 2010. / Ver detalhes


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