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VOS, M. ; LIU, X. ;Grande, P.L.; NANDI, S.K. ; VENKATACHALAM, D.K. ; ELLIMAN, R.G. . The use of electron Rutherford backscattering to characterize novel electronic materials as illustrated by a case study of sputter-deposited NbOx films. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B, Beam Interactions with Materials and Atoms (Print), v. 340, p. 58-62, 2014.

Tipo
Artigos em periódicos internacionais indexados
Grupo de pesquisa
Laboratório de Implantação Iônica - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
Coordenador
Pedro Grande

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